IVL兼容CRA测试设备应⽤于OLED,Micro LED/OLED 模组的光学性能检测,集成CS3000光谱仪、源表、CCD辅助定位系统以及多轴高精度运动机构的一整套测试方案。具有多工位测量、变温测量及CRA测量功能。能满足用户研发与量产阶段IVL及CRA 光电数据测试的各种个性化需求。