CT（Die Test）设备

Die Test设备是一款专用于微显示芯片在cell状态下进行光学与电性测试的高效自动化设备。它主要面向0.2至2英寸的小尺寸产品，可在7秒的节拍时间内完成快速测试。
其核心特色在于支持四通道独立并行测试，单一通道异常不影响其他通道，显著提升了测试效率和稳定性。设备采用高寿命的Blade探针治具，保障优良的接触可靠性与测试成功率。同时，设备具备完整的生产数据智能化管理功能，能自动采集、存储测试数据，生成报表并上传至服务器，为工艺分析和质量追溯提供有力支持。